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日本 NPS 四探針電阻測(cè)試儀
更新日期:2026-04-16
訪問量:30
廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
生產(chǎn)地址:日本
1. 產(chǎn)品概述
2. 核心技術(shù)參數(shù)
測(cè)試原理:四探針法(直線四探針法 / 范德堡法可選)
測(cè)試范圍:電阻率 10?? ~ 10? Ω?cm,方阻 10?? ~ 10? Ω/□
測(cè)試精度:±0.5%(滿量程),重復(fù)性 ±0.1%
探針配置:直線四探針,標(biāo)準(zhǔn)間距 1.0mm(可定制)
探針壓力:5g ~ 200g 連續(xù)可調(diào)
測(cè)試電流:1nA ~ 100mA 多檔位自動(dòng)切換
數(shù)據(jù)接口:RS232C/USB,支持?jǐn)?shù)據(jù)導(dǎo)出與上位機(jī)連接
供電規(guī)格:AC 100~240V,50/60Hz,全球通用寬電壓
適用樣品:硅晶圓、ITO 薄膜、導(dǎo)電玻璃、半導(dǎo)體薄膜、金屬薄膜等
3. 日本 NPS 四探針電阻測(cè)試儀sigma-5 + 產(chǎn)品核心特點(diǎn)
高精度測(cè)試:±0.5% 滿量程精度,滿足半導(dǎo)體、顯示面板等行業(yè)的高精度檢測(cè)要求
寬量程覆蓋:適配從金屬薄膜到半導(dǎo)體材料的全品類導(dǎo)電性能測(cè)試
多模式測(cè)試:支持直線四探針法、范德堡法,適配不同形狀、厚度的樣品
自動(dòng)化操作:支持多點(diǎn)掃描、自動(dòng)升降探針、自動(dòng)數(shù)據(jù)記錄,提升批量檢測(cè)效率
高適配性:可適配 4/6/8 英寸硅晶圓、玻璃基板、柔性薄膜等各類樣品
穩(wěn)定可靠:工業(yè)級(jí)硬件設(shè)計(jì),抗干擾能力強(qiáng),可在實(shí)驗(yàn)室、產(chǎn)線環(huán)境長(zhǎng)期運(yùn)行
4. 適用場(chǎng)景
5. 安裝、使用與售后
安裝說明:設(shè)備為臺(tái)式分體式設(shè)計(jì),按規(guī)范連接主機(jī)與測(cè)試臺(tái),放置于平穩(wěn)工作臺(tái),避免震動(dòng)
使用維護(hù):定期校準(zhǔn)探針與測(cè)試系統(tǒng),清潔探針與樣品載臺(tái),保障測(cè)試精度
售后服務(wù):提供專業(yè)安裝調(diào)試、操作培訓(xùn)、校準(zhǔn)服務(wù),原廠技術(shù)支持與配件供應(yīng)
包裝運(yùn)輸:采用防震、防潮包裝,保障設(shè)備運(yùn)輸過程中不受損傷






